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市場(chǎng)活動(dòng)

概倫電子即將亮相DAC,展示其定制IC電路設(shè)計(jì)平臺(tái)、電路仿真和設(shè)計(jì)支持解決方案

2022-07-13

概倫電子(股票代碼:688206.SH) 即將出席在美國(guó)舊金山召開的第59屆電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化年會(huì)DAC并展示其靈活、可擴(kuò)展的電路設(shè)計(jì)環(huán)境,用于定制存儲(chǔ)器和模擬/混合信號(hào)IC設(shè)計(jì)以及全新的電路仿真和設(shè)計(jì)支持解決方案,重點(diǎn)展示承載EDA全流程的全定制電路設(shè)計(jì)平臺(tái)產(chǎn)品NanoDesigner?,智能的半導(dǎo)體器件模型自動(dòng)提取平臺(tái)SDEP?, 先進(jìn)的參數(shù)化單元庫(kù)開發(fā)平臺(tái)PCellLab?,標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)特征化解決方案NanoCell?,交流動(dòng)態(tài)噪聲測(cè)量系統(tǒng)9812AC?,半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)FS-Pro?, 以及模型、PDK和標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的驗(yàn)證工具集如ME-Pro?,PQLab?和LibWiz?。



多款硬核新品首秀

基于現(xiàn)有領(lǐng)先的SPICE/FastSPICE仿真技術(shù),概倫電子致力于打造創(chuàng)新的DTCO解決方案,幫助縮短上市時(shí)間,改進(jìn)先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下電路設(shè)計(jì)的YPPA,并提供獨(dú)特的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)EDA解決方案。包括SDEP?, PCellLab?, NanoCell? and FS-Pro?在內(nèi)的DTCO解決方案,可以顯著縮短模型、PDK和標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)從工藝研發(fā)到IC設(shè)計(jì)的開發(fā)周期。

NanoDesigner?提供一個(gè)靈活、可擴(kuò)展的全定制存儲(chǔ)和模擬/混合信號(hào)IC設(shè)計(jì)環(huán)境,包括原理圖編輯、版圖編輯和優(yōu)化及物理驗(yàn)證等功能,同時(shí)與技術(shù)領(lǐng)先的電路模擬仿真器NanoSpice集成,提供完整的定制類電路設(shè)計(jì)EDA全流程。NanoSpice系列產(chǎn)品具備高性能并行能力并配備了自適應(yīng)雙引擎,可以完整覆蓋各種電路仿真功能的需求,比傳統(tǒng)的SPICE和FastSPICE更快地得到更準(zhǔn)確的結(jié)果,同時(shí)擴(kuò)展了獨(dú)特的混合信號(hào)驗(yàn)證、老化仿真、EM/IR分析、RTN和高Sigma良率分析等分析和優(yōu)化功能。

PCellLab?是一款界面友好的 PCell 自動(dòng)化開發(fā)平臺(tái),與PQLab?相結(jié)合,形成一個(gè)完整的PDK開發(fā)和驗(yàn)證解決方案;標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)特征化 EDA 工具NanoCell?與標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)驗(yàn)證解決方案LibWiz?相結(jié)合,提供完整的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)特征化與驗(yàn)證解決方案;以及業(yè)界首款交流動(dòng)態(tài)噪聲測(cè)量系統(tǒng)9812AC,可以在大范圍偏置電壓和激勵(lì)頻率下測(cè)試半導(dǎo)體器件的低頻噪聲特性,用于先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下的器件特性研究和工藝研發(fā)。

更多核心產(chǎn)品矩陣

作為一款創(chuàng)新的半導(dǎo)體器件模型自動(dòng)化提取平臺(tái),SDEP?旨在解決行業(yè)面臨的先進(jìn)SPICE建模挑戰(zhàn),為客戶提供一個(gè)系統(tǒng)來(lái)保留和接收新的器件建模專業(yè)知識(shí),并使用面向目標(biāo)的算法為不同的工藝平臺(tái)和應(yīng)用構(gòu)建自動(dòng)化流程。通過(guò)內(nèi)置并行SPICE作為核心仿真引擎,可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)分析和驗(yàn)證、模型參數(shù)自動(dòng)提取優(yōu)化功能,支持多種復(fù)雜先進(jìn)的優(yōu)化算法、參數(shù)過(guò)濾、模型驗(yàn)證和收斂控制等能力。

FS Pro是一款集多功能于一體的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),用于半導(dǎo)體器件DC/AC、可靠性和測(cè)試解決方案。

關(guān)于DAC 2022

DAC(Design Automation Conference)是EDA領(lǐng)域的年度盛會(huì),第59屆DAC將于7月11日至13日當(dāng)?shù)刂g上午10點(diǎn)到下午18點(diǎn)在美國(guó)舊金山Moscone舉辦,概倫電子連續(xù)第十二年參展,展位號(hào) #1419,欲現(xiàn)場(chǎng)了解產(chǎn)品矩陣或觀看演示,請(qǐng)聯(lián)系contact@primarius-tech.com

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